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芯片老化测试的重要性讲解
发布时间:2022/07/08 浏览量:121

       随着芯片进入汽车、云计算、工业物联网等市场,芯片的可靠性逐渐成为开发者关注的焦点。事实也证明,随着时间的推移,芯片要实现想要的功能会越来越难。

       以前芯片的可靠性一般都归结于OEM的问题。那些专门为电脑和手机设计的芯片,平均可以在高性能下正常使用两到四年。两到四年后,芯片的功能开始下降,用户升级到下一版本的产品,功能更多,性能更好,待机时间更长。

       但随着芯片打入过去并不成熟的新市场或电子产品市场,如汽车、机器学习、物联网(LOT)和工业物联网、虚拟和增强现实、家庭自动化、云、加密货币挖掘等。,这已经不是一个简单的问题了。

      每个终端市场都有自己独特的需求和特点,影响着芯片的使用方式和条件,而芯片的使用方式和条件又会对老化、安全等其他问题产生较大的影响。

      影响芯片老化和质量的因素比过去多了。虽然其中一些在开发芯片时可能不明显,但当一个已知芯片与其他芯片封装在一起时,其性能可能与PCB上的有所不同。芯片自始至终都在运行,芯片内部一直有模块发热,导致加速老化,可能会带来各种不可预知的问题。因此,芯片设计公司会在芯片出厂前进行加速老化测试(HAST)。以便筛选和测试更好的电影并投放市场。


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