产品中心_群沃电子科技(苏州)有限公司

专注各类IC芯片烧录/测试、蓝牙模块、5G模块、RF模块、TWS模块、wi-fi模块、IGBT模块、IOT产品测试的研发、生产与销售

服务热线：4000-526-058

EN

智能化模块整线测试方案

查看详情

产品中心

GT-9000PLUS新一代高速烧录器

芯片烧录机厂家

查看详情

新一代高速烧录器，核心：搭配USB3.0传输介面，烧录速度大幅提升；最多可支持8个烧录座；支持各种类IC的万用型烧录器；全脚位自动侦测，防止IC反向烧毁、接触不良等问题； 4组独立脚位驱动电路，多颗IC并行烧录不互相干扰，提供高速、高品质的烧录。
PCB模块柔性测试线体

测试封装一体化

查看详情

PCB模块柔性测试线体，支持蓝牙模块、5G模块、TWS模块、WIFI模块，IOT模块、电源模块功能的测试；设备可单机使用实现多功能同机完成，也可以多联机模式，从上板一分板一摆盘 →ID写入射频一功能测、每个单机完成不同的功能，提高产能，实现测试封装一体化；测试单元模块定制化，针对不同产品线实现快速换线，模块化作业；可任意加装搭配各类仪器仪表，可加装连接ATE系统。使你的测试无忧无虑。

1600PCS

测试产能

2.5KwXN

额定功率

Win10

作业系统

XYZ三轴

稳定高效
IN-LINE自动测试线体（双通道）

全系列产品支持上下夹具5分钟快换功能

查看详情

适用于各类单板PCB及多联板PCB的上板、ICT测试、烧录测试、FCT测试、EOL测试;分板-包装系统可选择1~N台连机设备，设备关键部件采用进口核心主部件；测试夹具均使用通用快插速换插头，多种产品换线及共用性强，线体功能丰富,满足各类产品测试和烧录需求；采用双轨异步可拓展四工位作业模式提高测试、烧录、生产效率；人性化测试软件接口(可选配支持MES系统)；根据产线配置需求任意增减工站数量，可以增加分板工站及涂覆工站或单独使用某个工站使用更加柔性。可任意加装搭配各类仪器仪表，可加装连接ATE系统。使你的测试无忧无虑。
IN-LINE自动测试线体（塔式三通道）

全系列产品支持上下夹具5分钟快换功能

查看详情

适用于各类单板PCB及多联板PCB的上板、ICT测试、烧录测试、FCT测试、EOL测试;分板-包装系统可选择1~N台连机设备，设备关键部件采用进口核心主部件；测试夹具均使用通用快插速换插头，多种产品换线及共用性强，线体功能丰富,满足各类产品测试和烧录需求；采用双轨异步可拓展四工位作业模式提高测试、烧录、生产效率；人性化测试软件接口(可选配支持MES系统)；根据产线配置需求任意增减工站数量，可以增加分板工站及涂覆工站或单独使用某个工站使用更加柔性。可任意加装搭配各类仪器仪表，可加装连接ATE系统。使你的测试无忧无虑。
存储芯片全自动测试分选开卡机

GT9100FT

查看详情

存储芯片全自动测试分选开卡机，高效：双平台交替，144 工位同步，大批量生产首选；精准：微米级控制+多重防呆，分选精准、良率稳定；兼容：通用接口，无缝对接现有产线与自动化。

高速万用核心

精准机构设计

双500万像素CCD

双轨TRAY盘设计

智慧化软体

完善外观设计
全自动老化测试线

GT-1050-4

查看详情

全自动老化测试线，独立温控设计，提供DUT极佳的温控精度和均匀性；高精度视觉AOI检测，确保测试质量；全过程ESD控制，确保测试过程安全可控。

1050W

每通道最大功率

4

负载通道数

45-125℃

老化温度

冷却方式

风冷

高速万用核心

精准机构设计

双500万像素CCD

智慧化软体
自动测试单站式（ICT、FCT、EOL）

全系列产品支持上下夹具5分钟快换功能

查看详情

150kg / 260kg

重量

12Kw

最大功率

Win10

作业系统

450*350

产品兼容尺寸
自动测试线体单轨式(ICT、FCT、EOL)

全系列产品支持上下夹具5分钟快换功能

查看详情

280kg / 400kg

重量

12Kw

最大功率

Win10

作业系统

280*200 / 450*350

产品兼容尺寸
芯片烧录测试

GT-3000AP / GT-1500AP

查看详情

进口核心主部件；高精度,适应1.5*1.5，2*3小型芯片测试烧录；4轴直线电机连杆轴心,快速精准；飞拍，精准快速检测(业界独家,已获专利)；人性化烧录软件接口(可选配支持MES系统)；支持烧录包装类型: TRAY/TUBE/TAPE；零换盘、零停机、零等待。

±0.01

影像精准度

2.5Kw

额定功率

Win10

作业系统

XYZ三轴

稳定高效

高速万用核心

精准机构设计

双500万像素CCD

智慧化软体
芯片烧录测试

GT-1500MIN / GT-1500AP

查看详情

进口核心主部件；高精度,适应1.5*1.5，2*3小型芯片测试烧录；4轴直线电机连杆轴心,快速精准；飞拍，精准快速检测(业界独家,已获专利)；人性化烧录软件接口(可选配支持MES系统)；支持烧录包装类型: TRAY/TUBE/TAPE；零换盘、零停机、零等待。

±0.01

影像精准度

2.5Kw

额定功率

Win10

作业系统

XYZ三轴

稳定高效

高速万用核心

精准机构设计

双500万像素CCD

智慧化软体
离线模块测试机

GT730A（单机版）

查看详情

测试结果通过PASS/FAIL直观显示；单机模块测试机，双轨道托盘进料；卷带热封出料，适用于各种蓝牙模块和WIFI模块的烧录和测试；8个屏蔽箱模块，可同时测试8-32个产品，单配不同的测试仪器；可完成代码写入，频段矫正等不同功能的测试烧录要求。自动保存excel报表和数据库，方便追踪管理；精确快速的完成测试，节省测试时间；多种接口(按键、条码枪)一键启动测试可根据需求扩展功能；零换盘、零停机、零等待。

精准机构设计

双500万像素CCD

双轨TRAY盘设计

智慧化软体
ATE在线电源模块自动测试系列

GT-780A单机版

查看详情

ATE在线电源模块自动测试系列测试结果通过PASS/FAIL直观显示；单机模块测试机，双轨道托盘进料；8个测试单元，可同时测试8-32个产品，可配不同的测试仪器；自动保存excel报表和数据库，方便追踪管理；精确快速的完成测试，节省测试时间；多种接口(按键、条码枪)一键启动测试可根据需求扩展功能；零换盘、零停机、零等待；可任意加装搭配各类仪器仪表，可加装连接ATE系统；使你的测试无忧无虑。

1600PCS

测试产能

2.5KW

额定功率

Win10

作业系统

XYZ三轴

稳定高效
老化板上下料分选机(BIB装载机)

GT-6000SX

查看详情

老化板上下料分选机多个老化板（BIB）输入和输出；为芯片老化板添加老化测试芯片，或者是将测试后的芯片按照测试要求分类去包装；主要结构有：老化板升降结构，老化板运送机构，芯片抓取搬运机构，不同方式的芯片供料和收料机构组成，老化测试座支持Cover和OpenTop两种方式；支持进出料方式：可盘装进料管装出料，盘装进料盘装出料，管装进料盘装出料，管装进料管装出料，可卷带进料盘装管装出料，盘装和管装进料卷带出料；进口核心主部件，龙门式架构，精密部件硬度氧化铸造处理，持久耐用更稳定，配置五个吸取料真空吸嘴，使用直线电机驱动，精度高，速度快；

±0.01mm

放置精度

6000PCS/H

产能

Win10

作业系统

XYZ三轴

稳定高效
GLS通用器件老化测试系统

GLP-12-A

查看详情

每个系统更多DUT；更多Socket(每个BIB最多75个)；功率更大650 W至1200 W每个BIB；更好的分庭；更大的灵活性-更好的加载，更高的投资回报率

10KW~15KW

电网要求

750X900X850

规格尺寸

Win10

作业系统

约500Kg

重量
GLP功率器件老化测试系统

GLP-24-A

查看详情

高级老化和测试系统(GLP)解决方案为封装半导体器件的测试/老化提供了灵活性。它支持用于放置被测器件(DUT)的普通预烧板(BIB)和用于将DUT自动装载到BIB/从BIB卸载DUT的各种BIB装载机。

15KW~36KW

电网要求

1500X1800X850

规格尺寸

Win10

作业系统

约800Kg

重量
测试插座

提高检测结果的准确度

查看详情

隔绝外界的电磁干扰，保证室内电子、电气设备正常工作。特别是在电子元件、电器设备的计量、测试工作中，利用电磁屏蔽室（或暗室）模拟理想电磁环境、提高检测结果的准确度。

第一页
上一页
1
下一页
最后一页

4000-526-058

公司简介: 公司介绍发展历程公司团队公司荣誉合作伙伴

产品中心: PCB模块柔性测试线体 IN-LINE自动测试线体（双通道） IN-LINE自动测试线体（塔式三通道）存储芯片全自动测试分选开卡机全自动老化测试线自动测试单站式（ICT、FCT、EOL）自动测试线体单轨式(ICT、FCT、EOL) 芯片烧录测试芯片烧录测试离线模块测试机 ATE在线电源模块自动测试系列老化板上下料分选机(BIB装载机) GLS通用器件老化测试系统 GLP功率器件老化测试系统测试插座 GT-9000PLUS新一代高速烧录器

解决方案: 蓝牙模块测试 5G模块测试 Wifi模块测试 TWS模块测试 IOT模块测试射频测试无线射频音频测试分拣测试设备 IC芯片老化测试 IGBT模块测试 ICT测试 FCT测试

新闻资讯: 公司新闻行业资讯常见问题

联系我们

关联公司：群测科技（深圳）有限公司、群测半导体（苏州）有限公司

网站地图联系我们

一站式IC芯片老化测试 IGBT模块测试解决方案电话：0512-67950666

群沃电子科技（苏州）有限公司版权所有苏ICP备2022003488号-1

4000-526-058

051267950666

首页

产品

案例

电话咨询