GLS通用器件老化测试系统_GLS通用器件老化测试系统_产品中心

GLS通用器件老化测试系统

产品介绍

▲每个系统更多DUT:

更大的BIB- (670mmX440mm），单板共有276个金手指接触点，最大输入电流：55A

★单板可测试75个元器件

★更多BIB-高达12

▲更多Socket(每个BIB最多75个)；

▲功率更大650W至1200W每个BIB；

▲更好的分庭:

★更高的功耗-高达36 KW

★更好的气流和温度均匀性

★空气和水系统冷却选项

★系统占地面积小，无需侧面访问

▲更大的灵活性-更好的加载，更高的投资回报率:

★最多可同时在同一个系统中运多个不同程序配置

★真引脚测试仪体系结构(定时、格式化、三态、电压)

★15 Mhz数据速率

★采用单独Socket或VTR技术的独立器件温度控制

系统参数

规格名称	单柜老化系统
测试板数量	1-12
电网要求	AC220V，10KW~15KW
基本功能	●漏电流上限、试验电压上限、温度上限的设定;老化时间的设定; ●试验参数(IH、Im、ton/toff、times)设置; ●参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj)上限设定 ; ●实时监测显示老化参数（ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj、Times)及循环次数; ●绘制VCE变化曲线,并判断变化率 ·测试结壳热阻Rjc绘制变化曲线，并判断变
上位机	工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
软件	●支持本地数据和数据上传，支持MES对接; ●支持在线编辑测试程序; ●支持软件三级权限管理和多账号管理;
规格尺寸	750X900X850
重量	约500Kg

核心优势

芯片支援度 与台湾及本土优势核心厂商合作，支援100,000 种以上IC类型，領先业界，支援UFS、eMMC、MCU、Flash等产品。

机台稳定性 机台自行研发设计，完整的组装测试及产品管理流程

刻录速度 设备检测烧录速度领先同业，同样产品下，烧录测试速度高出30%~300%。

售后服务 我们拥有博士硕士专家团队，服务据点超过10个，客户群体超越1000个。

光学定位 拥有独立研发光学团队，自行开发相关对位及算法技术，全系列产品配置CCD光学定位位系统，让生产拥有最佳效率。

扩充兼容性 机台选配功能众多，可加装激光或喷墨打印装置；更换核心即可升级产品提生性能，可根据不同客户端的要求及分类做出最好的注册及配置