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集成电路老化测试系统主要功能
发布时间:2022/03/21 浏览量:66

       集成电路老化测试系统是一种用于电子与通信技术领域的工艺试验仪器,于2008年06月25日启用,用来做耐温老化试验的。在耐温老化试验中,首先要根据老化测试系统机台内部的接口,另外设计制作老化测试板,将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上,再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中,老化测试系统内部接口可提供电压和信号,通过老化测试板供给芯片,同时让老化测试系统升温,让芯片在高温状态下工作。在一定的工作时间结束后取出集成电路芯片,再通过其他测试设备判断芯片是否损坏,从而判断集成电路芯片的寿命

 集成电路老化测试

       群沃科技(苏州)有限公司是一家国家级高新技术企业,旗下有群测科技(深圳)有限公司和群测半导体(苏州)有限公司。公司主要从事各类IC芯片、蓝牙模块、5G模块、RF模块、TWS模块、wi-fi模块、IOT产品测试的研发、生产与销售,产品主要应用于集成电路、消费数码、可穿戴式电子产品、无线通信、手机生产商及EMS代工厂等提供、智能一体化集成电路测试及烧录一站式解决方案、无线通信类测试整体解决方案、无线射频音频测试技术解决方案、集成电路老化测试整体解决方案的服务提供商。

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